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FJ-5 Forschung Grad Mikroskop ist für die Halbleiterindustrie, Wafer-Fertigung, elektronische Informationen Industrie, Metallurgie-Industrie braucht, und als Senior Lichtmikroskop Benutzer Erfahrung beim Einsatz ihrer überlegenen Leistung kann in den Halbleiter verwendet werden , FPD, Schaltung Verpackung, Leiterplatte, Materialien, Guss / Metall / Keramik-Komponenten, Präzisionsform Tests. Das Gerät verwendet zwei Arten von Beleuchtung in Form von Reflexion und Transmission, Beleuchtung im reflektierten Licht beobachtet werden kann und DIC Beobachtung von hellen und dunklen Bereichen, polarisiertes Licht Beobachtung. Hauptsächlich als Durchlicht Hellfeld Beobachtung. Stabile, hochwertige optische System zu Bildschärfe, Kontrast und besser. Ergonomische Anforderungen für den Entwurf, so dass Sie sich wohl fühlen bei der Arbeit und zu entspannen.
FEATURES
1. UIS mit hochauflösenden, lange Distanzen unendliche optische Bildgebung Linsenkorrektur System. 2. Multiplexing, um das Objektiv zu erweitern, ist die Unendlichkeit Objektiv kompatibel mit allen Beobachtungen, darunter helle und dunkle Vision trägt Methode, polarisiertes Licht Methode, DIC und sind für jede Beobachtung in High-Definition-Bildqualität zur Verfügung gestellt. 3. Kohler-Beleuchtung mit nicht-sphärische, beobachtete eine Zunahme Helligkeit. 4. WF10 × (Φ25) Super-Vision Linse, Licht und Dunkel Feld großem Arbeitsabstand metallurgische Objektiv. 5. DIC Differential-Interferenz-Geräte können Stecker des Konverters.
